Journal Of X-ray Science And Technology SCIE

國(guó)際簡(jiǎn)稱：J X-RAY SCI TECHNOL 參考譯名：X射線科學(xué)與技術(shù)雜志

主要研究方向：工程技術(shù)-光學(xué) 非預(yù)警期刊審稿周期：約3.0個(gè)月

《X射線科學(xué)與技術(shù)雜志》(Journal Of X-ray Science And Technology)是一本由IOS Press出版的以工程技術(shù)-光學(xué)為研究特色的國(guó)際期刊，發(fā)表該領(lǐng)域相關(guān)的原創(chuàng)研究文章、評(píng)論文章和綜述文章，及時(shí)報(bào)道該領(lǐng)域相關(guān)理論、實(shí)踐和應(yīng)用學(xué)科的最新發(fā)現(xiàn)，旨在促進(jìn)該學(xué)科領(lǐng)域科學(xué)信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒(méi)有被列入預(yù)警名單。

3區(qū) 中科院分區(qū)
Q3 JCR分區(qū)
84 年發(fā)文量
1.7 IF影響因子
未開放 是否OA
28 H-index
1989 創(chuàng)刊年份
Quarterly 出版周期
English 出版語(yǔ)言

Research areas within the scope of the journal include:

Interaction of x-rays with matter: x-ray phenomena, biological effects of radiation, radiation safety and optical constants

X-ray sources: x-rays from synchrotrons, x-ray lasers, plasmas, and other sources, conventional or unconventional

Optical elements: grazing incidence optics, multilayer mirrors, zone plates, gratings, other diffraction optics

Optical instruments: interferometers, spectrometers, microscopes, telescopes, microprobes

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Journal Of X-ray Science And Technology期刊信息

ISSN：0895-3996
出版語(yǔ)言：English
是否OA：未開放
E-ISSN：1095-9114
出版地區(qū)：NETHERLANDS
是否預(yù)警：否
出版商：IOS Press
出版周期：Quarterly
創(chuàng)刊時(shí)間：1989
開源占比：0.063
Gold OA文章占比：5.91%
OA被引用占比：0
出版國(guó)人文章占比：0.49
出版撤稿占比：0
研究類文章占比：100.00%

Journal Of X-ray Science And Technology CiteScore評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指數(shù)

4.9

0.501

0.791

學(xué)科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Medicine 小類：Radiology, Nuclear Medicine and Imaging	Q2	103 / 333	69%
大類：Medicine 小類：Radiation	Q2	19 / 58	68%
大類：Medicine 小類：Instrumentation	Q2	46 / 141	67%
大類：Medicine 小類：Condensed Matter Physics	Q2	141 / 434	67%
大類：Medicine 小類：Electrical and Electronic Engineering	Q2	264 / 797	66%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個(gè)指標(biāo)。當(dāng)年CiteScore 的計(jì)算依據(jù)是期刊最近4年（含計(jì)算年度）的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻(xiàn)數(shù)。例如，2022年的 CiteScore 計(jì)算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對(duì)2019-2022年發(fā)表的文件的引用數(shù)量÷2019-2022年發(fā)布的文獻(xiàn)數(shù)量注：文獻(xiàn)類型包括：文章、評(píng)論、會(huì)議論文、書籍章節(jié)和數(shù)據(jù)論文。

Journal Of X-ray Science And Technology中科院評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)

中科院 2023年12月升級(jí)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	醫(yī)學(xué)	3區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	3區(qū) 3區(qū) 3區(qū)

中科院 2022年12月升級(jí)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	醫(yī)學(xué)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院 2021年12月舊的升級(jí)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	醫(yī)學(xué)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院 2021年12月基礎(chǔ)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	醫(yī)學(xué)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院 2021年12月升級(jí)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	醫(yī)學(xué)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

中科院 2020年12月舊的升級(jí)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	醫(yī)學(xué)	4區(qū)	INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學(xué) PHYSICS, APPLIED 物理：應(yīng)用	4區(qū) 4區(qū) 4區(qū)

Journal Of X-ray Science And Technology JCR評(píng)價(jià)數(shù)據(jù)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q3	44 / 76	42.8%
學(xué)科：OPTICS	SCIE	Q3	73 / 119	39.1%
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q3	125 / 179	30.4%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION	SCIE	Q2	35 / 76	54.61%
學(xué)科：OPTICS	SCIE	Q2	59 / 120	51.25%
學(xué)科：PHYSICS, APPLIED	SCIE	Q2	77 / 179	57.26%

Journal Of X-ray Science And Technology歷年數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)

影響因子

中科院分區(qū)

Journal Of X-ray Science And Technology中國(guó)學(xué)者發(fā)文選摘

1、Super-resolution image reconstruction from sparsity regularization and deep residual-learned priors
Author: Zhong, Xinyi; Liang, Ningning; Cai, Ailong; Yu, Xiaohuan; Li, Lei; Yan, Bin

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 2, pp. 319-336. DOI: 10.3233/XST-221299
2、Mineral quantitative characterization method based on basis material decomposition model by dual-energy computed tomography
Author: Zhi, Weijuan; Zou, Jing; Zhao, Jintao; Xia, Xiaoqin

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 2, pp. 373-391. DOI: 10.3233/XST-221324
3、An Innovative Low-dose CT Inpainting Algorithm based on Limited-angle Imaging Inpainting Model
Author: Zhang, Ziheng; Yang, Minghan; Li, Huijuan; Chen, Shuai; Wang, Jianye; Xu, Lei

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 1, pp. 131-152. DOI: 10.3233/XST-221260
4、Radiomics nomogram for predicting axillary lymph node metastasis in breast cancer based on DCE-MRI: A multicenter study
Author: Zhang, Jiwen; Zhang, Zhongsheng; Mao, Ning; Zhang, Haicheng; Gao, Jing; Wang, Bin; Ren, Jianlin; Liu, Xin; Zhang, Binyue; Dou, Tingyao; Li, Wenjuan; Wang, Yanhong; Jia, Hongyan

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 2, pp. 247-263. DOI: 10.3233/XST-221336
5、Deformable medical image registration based on CNN
Author: Yang, Yunfeng; Wu, Huihui

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 1, pp. 85-94. DOI: 10.3233/XST-221252
6、Improving diagnostic performance of rib fractures for the night shift in radiology department using a computer-aided diagnosis system based on deep learning: A clinical retrospective study
Author: Xiong, Shan; Hu, Hai; Liu, Sibin; Huang, Yuanyi; Cheng, Jianmin; Wan, Bing

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 2, pp. 265-276. DOI: 10.3233/XST-221343
7、A deep learning-based recognition for dangerous objects imaged in X-ray security inspection device
Author: Wei, Qiuyue; Ma, Shenlan; Tang, Shaojie; Li, Baolei; Shen, Jiandong; Xu, Yuanfei; Fan, Jiulun

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 1, pp. 13-26. DOI: 10.3233/XST-221210
8、Skin cancer image recognition based on similarity clustering and attention transfer
Author: Tan, Zhengbo; Lin, Jiangli; Chen, Ke; Zhuang, Yan; Han, Lin

Journal: JOURNAL OF X-RAY SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2023; Vol. 31, Issue 2, pp. 337-355. DOI: 10.3233/XST-221333